薄膜厚度測量儀的應用和技術原理
更新時間：2013-11-12 點（diǎn）擊次數：3723次
薄膜厚度測試儀配備專業的儀器（qì）控製，光譜測（cè）量和薄膜測量功能（néng）的軟件，具有廣（guǎng）闊的應用範圍。該薄膜厚度測試儀軟件能夠（gòu）實時（shí）采集吸收（shōu）率，透（tòu）過率，反射率和熒光光譜（pǔ），並且能夠能夠快速計算出結果。
對於吸收率/透過率模式的配置，所有的典型參數如A,T可快速計算出來。其他的非標準（zhǔn）參（cān）數，如signalintegration也（yě）能測量出來。
對於反射率測量，薄膜厚度測試儀軟件能夠測（cè）量膜層小（xiǎo）於10層薄膜厚度（《10nm到100微米（mǐ）），光（guāng）學常量（n&k）。
薄膜厚度測試儀應用：
薄膜（mó）厚度測量係統測量薄膜吸收率,透（tòu）過率
薄膜厚度測量係統測量化學薄膜和生（shēng）物薄膜測量
薄膜厚度測試儀光（guāng）電子薄膜結構測量（liàng）
薄膜厚度測量係統半導體製造
薄膜厚度測試儀聚合物測量（liàng）
薄膜測量係統在線測量
薄膜測量係統光（guāng）學鍍膜測量
這款薄膜厚度測量係統是（shì）超功（gōng）能多樣的薄（báo）膜厚度測試（shì）儀,結（jié）合顯微鏡測量薄膜厚度,折射率和消光係數等（děng）
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